粗さプロファイル測定一体機
製品属性
モデル番号：SPMI600D
ブランド：デクサン
認証：手に届く、スコック
カスタマイズをサポートします：Obm、Odm
出身地：中国の
X測定範囲：120mm
プロファイル測定範囲：60mm
粗さ測定範囲：60mm
包装&配達
| 販売ユニット | ： | セット/セット |
| パッケージタイプ | ： | 木製ケース結束 |
| 写真例 | ： |
製品説明
前記粗さプロファイラは、前記計器スタイラスと前記計測面との間の滑りによって測定される接触測定である、その主な利点は、穴、溝などの測定が困難な部分の表面粗さを直接測定でき、特定の評価基準に従って表面輪郭曲線の形状を直接読み取ったり描画したりできることです。測定速度が速く、結果が信頼でき、操作が便利です。ただし、測定面はスタイラスによって傷がつきやすいため、確実な接触を確保することを前提として、測定圧力をできるだけ低下させる必要があります。
ラフネスプロファイラは、センサーの動作原理に従って誘導型、誘導型、圧電型に分けられます。機器はセンサー、ドライブボックス、電気ボックスの3つの基本部品で構成されています。
ラフネスプロファイラは、センサーの動作原理に従って誘導型、誘導型、圧電型に分けられます。機器はセンサー、ドライブボックス、電気ボックスの3つの基本部品で構成されています。
前記センサのスタイラスはダイヤモンドであり、前記スタイラス先端の円弧半径は2ミクロンであり、前記スタイラスの後端にガイドブロックがインテレーションされてワーク表面の巨視的な変動に対する測定基準となるため、前記スタイラスの変位が前記センサハウジングに対してのみなるため、前記ガイドブロックは、マクロ形状誤差を排除し、表面粗さ測定結果に対する波紋の影響を低減することができる。前記センサは、前記駆動ボックスにヒンジ状に接続されており、ヒンジは自由に落下可能であり、前記ガイドブロックが常に測定面に接触するようにしている。
測定原理：
この機器の測定原理は、X軸およびZ1軸センサを介して被測定部の表面形状の座標点をマッピングし、センサで測定された座標点データを電気部品を介して上部PCに送信する矩形座標測定法である。収集された元の座標データに対して数学的演算を行い、必要な工学的測定項目をマークする
この機器の性能は輸入機器の性能と比較することができ、その指標は国際基準に達しています。機器は国家標準GB/T3505-2000、GB/T6062-2001、GB/T10610-1998、および国際標準ISO5436、ISO11562、ISO4287の要件を満たしています。
粗さプロファイル測定装置
機器スキル
粗さ分析：Ra、Rq、Rz(Ry)、Rz(DIN)、R3z、Rz(jis)、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rsm、Rc、Rpm、Rku、Rdq、Roc、Mr1、Mr2、Rpk、Rvk、Rk、Rdc、A1、A2、R、Rx、AR、Rcp、Rmax、Rz ISO
波状分析：wt、wa、wp、wv、wq、wc、wku、wsk、w、wx、wz、wsm、wdcwte、wmr、Aw、c(wmr)、wmr(c)、wdq
元の輪郭分析：Pt、Pa、Pp、Pv、Pq、Pc、Pku、Psk、Pdq、Psm、Pdc、Pmr、Pz、Pm
粗さ分析：Ra、Rq、Rz(Ry)、Rz(DIN)、R3z、Rz(jis)、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rsm、Rc、Rpm、Rku、Rdq、Roc、Mr1、Mr2、Rpk、Rvk、Rk、Rdc、A1、A2、R、Rx、AR、Rcp、Rmax、Rz ISO
波状分析：wt、wa、wp、wv、wq、wc、wku、wsk、w、wx、wz、wsm、wdcwte、wmr、Aw、c(wmr)、wmr(c)、wdq
元の輪郭分析：Pt、Pa、Pp、Pv、Pq、Pc、Pku、Psk、Pdq、Psm、Pdc、Pmr、Pz、Pm
製品写真
顧客の話
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