粗さプロフィロメータオールインワン計
製品属性
モデル番号：SPMI-400D
ブランド：デクサン
認定：リーチ、スコック
カスタマイズをサポート：Odm、Obm
原産地：中国
全体寸法：1278*698*1640
測定：150*40
包装&配達
| 販売ユニット | ： | セット/セット |
| パッケージタイプ | ： | 木製ケース結束 |
| 写真例 | ： |
製品説明
粗さプロフィロメータオールインワン機
前記表面粗さプロフィロメータは、輪郭中間線を評価基準として用いる、輪郭算術平均偏差Ra、きらめきムラ10点高さRz、輪郭最大高さRy、輪郭顕微鏡ムラ平均間隔Sm、輪郭シングルピーク平均間隔S、輪郭支持長率tp、その他6つのパラメータを使用して表面品質を評価し、最終的に必要な表面粗さ試験装置を取得します。
技術的特徴：
1-3軸ホールロッカー制御は、3軸連動を自由に実現し、操作をより便利にすることができます(左、右、上下、
スタイラスを上下させ、1キーで測定を開始して停止します)。
2-自動検出、繰り返し測定、単一の製品バッチ検出。
3-スタイラス素材は、耐摩耗性と耐久性のある輸入された高硬度合金で作られています。
4.ソフトウェアシステムは、軸研究所の大学教授と上級教授が協力し、独立した財産を有する
ライツとソースコードを生涯無料でアップグレードできます。
プロファイル測定機能：
寸法：水平距離、垂直距離、直線距離、半径、直径を含む
含有角度：水平角度、垂直角度、含有角度を含む
位置公差：平行度と垂直度を含む
形状公差：直線度、凸度、円弧形状を含む
補助生成：補助点、補助線、補助円を含む
この機器の測定原理はデカルト座標測定法であり、つまりX軸およびZ1軸センサーを介して、
測定部の表面輪郭の座標点を描画し、センサにより測定された座標点データを、
前記上部PCは、前記電気部品を介して、収集された生座標データに対して数学的操作を実行し、必要な座標データをマークします。
工学的測定項目。
購入者への通知
01.仕様について
さまざまな製品があり、
仕様。購入者は、カスタマーサービス担当者に直接連絡することができます。
相談
02.物流について
サイズや重量が異なるため、
製品、配達方法も異なります。一般的に、最も
適切な配送方法が、
顧客の生活。特別な要件がある場合は、お客様にお問い合わせください
確認のためのサービス。
03.アフターについて
すべての製品は厳格な工場出荷検査の対象となります。もしあとがあれば
・販売問題
当社のカスタマーサービスまたは当社の責任者にお問い合わせください
初めて
粗さプロファイル測定装置
機器スキル
粗さ分析：Ra、Rq、Rz(Ry)、Rz(DIN)、R3z、Rz(jis)、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rsm、Rc、Rpm、Rku、Rdq、Roc、Mr1、Mr2、Rpk、Rvk、Rk、Rdc、A1、A2、R、Rx、AR、Rcp、Rmax、Rz ISO
波状分析：wt、wa、wp、wv、wq、wc、wku、wsk、w、wx、wz、wsm、wdcwte、wmr、Aw、c(wmr)、wmr(c)、wdq
元の輪郭分析：Pt、Pa、Pp、Pv、Pq、Pc、Pku、Psk、Pdq、Psm、Pdc、Pmr、Pz、Pm
粗さ分析：Ra、Rq、Rz(Ry)、Rz(DIN)、R3z、Rz(jis)、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rsm、Rc、Rpm、Rku、Rdq、Roc、Mr1、Mr2、Rpk、Rvk、Rk、Rdc、A1、A2、R、Rx、AR、Rcp、Rmax、Rz ISO
波状分析：wt、wa、wp、wv、wq、wc、wku、wsk、w、wx、wz、wsm、wdcwte、wmr、Aw、c(wmr)、wmr(c)、wdq
元の輪郭分析：Pt、Pa、Pp、Pv、Pq、Pc、Pku、Psk、Pdq、Psm、Pdc、Pmr、Pz、Pm
製品写真
顧客の話
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